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X光谱检测电镀层厚度仪器设备机 检测膜厚仪器 分析膜厚仪器 测试膜厚仪器 化验膜厚仪器 测试膜厚仪器 测量膜厚仪器设备机
产品: 浏览次数:961X光谱检测电镀层厚度仪器设备机 检测膜厚仪器 分析膜厚仪器 测试膜厚仪器 化验膜厚仪器 测试膜厚仪器 测量膜厚仪器设备机 
品牌: TC
材质: 钛合金
测量范围: 电镀层
单价: 169000.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 9999 台
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-07-21 08:43
 
详细信息
材质 钛合金
测量范围 电镀层
测量精度 0.01
产地 江苏
电源电压 220V
分辨率 0.01
类型 台式
名称 检测膜厚机器设备
售后服务 一年保修
执行质量标准 行标
品牌 其它
型号 XTD
加工定制
质量认证 ISO9001-2000

检测膜厚机器设备 

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

 

仪器的四大理由:

1.一机多用,无损检测

2.**小测量面积0.002mm?

3.可检测凹槽0-90mm的异形件

4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测

 

配置清单:

XTD200.png

检测膜厚机器设备 

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